EMMC芯片老化测试电路及其控制方法、测试系统

本申请公开一种EMMC芯片老化测试电路及其控制方法、测试系统，涉及芯片老化测试技术领域。EMMC芯片老化测试电路包括：母板包括第一输入端、第二输入端、第一输出端和第二输出端；直流电源通过第一开关模块与第一输入端连接；固件烧录板通过第二开关模块与第二输入端连接；子板包括EMMC芯片、SPI芯片、连接在第一输出端与EMMC芯片之间的缓启开关模块、连接在第一输出端与SPI芯片之间的第三开关模块、二极管；二极管的阴极与SPI芯片连接，二极管的阳极分别与第二输出端、第三开关模块连接；控制器分别与第一开关模块和第二开关模块通信连接。能降低老化测试过程的供电功耗和供电成本，提高成功启动EMMC芯片的概率。