芯片存储器的调节方法、装置、设备及存储介质

本发明涉及一种芯片存储器的调节方法，包括以下步骤：对所述存储监测数据进行内容提取，得到存储内容；获取存储监测数据对应的原版数据，通过预设的内容扫描算法，基于所述原版数据对所述存储内容进行内容检测对比，得到检测结果；通过预设的数学转换模型将所述检测结果转化为检测面积，若所述检测面积不在预先设定的面积范围内，则基于所述检测结果对所述存储监测数据进行标注，得到标注数据；基于所述标注数据对所述芯片存储器进行性能分析，得到分析结果；基于所述分析结果得到芯片存储器的故障因子，将所述故障因子输入预设的参数算法内进行计算，得到芯片存储器的调节参数；解决了如何有效地检测、分析和调整芯片存储器的性能的技术问题。