一种基于线结构光的任意齿距偏差测量方法

本发明公开了一种基于线结构光的任意齿距偏差测量方法，属于精密测试技术与仪器及齿轮非接触测量领域。该方法包括建立被测齿轮齿面三维模型、利用线结构光测头采集实际齿距测量点、根据实际齿距测量点反求几何中心、基于牛顿插值原理求解齿距偏差评价点，并根据评价点求解任意齿距偏差。该方法创新性地采用牛顿三次插值原理，解决了因数据采集点不均匀导致的测量精度问题，提高了齿距偏差计算的准确性，并充分利用了线结构光测量的大样本数据，以3D表征的形式表征完整齿轮齿面的任意齿距偏差，能更有效的反映齿轮质量。