一种测序质量评估方法、装置、设备、介质及产品

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一种测序质量评估方法、装置、设备、介质及产品
申请号:CN202410910765
申请日期:2024-07-09
公开号:CN118471340B
公开日期:2024-12-03
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种测序质量评估方法、装置、设备、介质及产品。该方法包括:根据待评估测序数据,确定待评估序列特征数据;根据待评估序列特征数据中的至少一种待评估序列特征以及预先训练完成的序列参数质量模型,确定待评估测序数据的目标参数质量;其中,序列参数质量模型至少选自插入碱基质量模型、错配碱基质量模型和缺失碱基质量模型中的至少一种,且当序列参数质量模型为插入碱基质量模型时,目标参数质量为目标插入碱基质量,当序列参数质量模型为错配碱基质量模型时,目标参数质量为目标错配碱基质量,当序列参数质量模型为缺失碱基质量模型时,目标参数质量为目标缺失碱基质量,提高了核酸序列的质量评估的颗粒度和准确度。
技术关键词
序列特征 参数 错误率 概率密度曲线 数据 像素点 感兴趣 多通道 波长 线性回归模型 处理器 可读存储介质 计算机程序产品 模板 图像 评估装置
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