一种多层复合材料单层面密度的检测方法

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一种多层复合材料单层面密度的检测方法
申请号:CN202410913105
申请日期:2024-07-09
公开号:CN118583716A
公开日期:2024-09-03
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种多层复合材料单层面密度的检测方法,涉及一种多层复合材料单层面密度的检测方法,包括探测器和放射源,其特征在于:包括对单层涂布进行实际测量与仿真计算与多层涂布仿真计算,通过验证对单层涂布的仿真计算的准确性来确定对多层涂布进行仿真计算,本发明能直接对上下层的面密度进行直接测量,在闭环控制阶段可以直接对上下层模头进行调整,优化了质量检验环节,保证生产出的双层涂布上下层面密度均符合设计标准。
技术关键词
多层复合材料 单层 涂布 探测器 仿真建模 放射源 蒙特卡罗方法 射线源 最小化误差 数学模型 待测物体 电子天平 计算误差 密度 闭环控制 方程 模头
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