一种高速多模光模块的耦合容差测试系统及方法

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一种高速多模光模块的耦合容差测试系统及方法
申请号:CN202410917073
申请日期:2024-07-10
公开号:CN118473522B
公开日期:2024-09-06
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种高速多模光模块的耦合容差测试系统,第一微调架的基座上固定具有光发射芯片以及光接收芯片的PCB板,第一微调架的活动架上固定第一多通道光纤阵列,第一多通道光纤阵列与第一多通道光源相连,第二微调架的活动架上固定第二多通道光纤阵列以及透镜,第二多通道光纤阵列与第一多通道光功率计相连,透镜经MT插芯接第二多通道光源或第二多通道光功率计,第一多通道光纤阵列的通道间距比第二多通道光纤阵列的通道间距大。有益效果为:用两个手动微调架替代自动耦合机,便可实现高速多模光模块的耦合容差测试,有效降低成本,只用通过改变两个多通道光纤阵列的间距差即可调整测试精度。
技术关键词
多通道光纤阵列 多通道光功率计 微调架 光模块 光接收芯片 透镜 蚀刻工艺制作 自动耦合机 电流值 间距 单模光纤 错位 光源 测试方法 曲线
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