一种基于数据分析的芯片运行电参数检测系统

本发明属于芯片电参数检测领域，涉及数据分析技术，用于解决现有的芯片运行电参数检测系统，无法结合所有的电参数检测结果对整体电参数性能进行评估的问题，具体是一种基于数据分析的芯片运行电参数检测系统，包括运行检测平台，运行检测平台通信连接有直流检测模块、交流检测模块、性能测试模块、整体评估模块、优化分析模块以及存储模块；直流检测模块用于对芯片进行直流参数检测分析：从同一批次待检测的芯片中抽取L1个芯片并标记为检测对象，将检测对象标记为直流正常对象或直流异常对象；本发明可以对芯片进行直流参数检测分析，根据静态系数与平稳系数对芯片的直流参数特征进行差异化标记。