一种氮化物外延结构及其制备方法、发光芯片及显示设备

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一种氮化物外延结构及其制备方法、发光芯片及显示设备
申请号:CN202410921412
申请日期:2024-07-10
公开号:CN118899380A
公开日期:2024-11-05
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种氮化物外延结构及其制备方法、发光芯片及显示设备。本申请涉及半导体技术领域,所述氮化物外延结构包括依次设置的:衬底;AlN层以及GaN层;所述AlN层包括自靠近所述衬底向远离所述衬底方向依次设置的AlN基础层、第一AlN层、第二AlN层及第三AlN层;所述第一AlN层的V/III比为300~400;所述第二AlN层包括多个在12000sccm的NH3通量及多个在480sccm的NH3通量下交替生长的AlN层;所述第三AlN层的V/III比为60~180。第二AlN层包括多个在12000sccmNH3通量及多个在480sccmNH3通量下交替生长的AlN层,利用交替V/III比生长AlN,可以在生长无裂纹AlN薄膜,得到高质量的AlN外延。交替V/III比生长的AlN结构可以改变位错生长行为,形成倾斜的位错,从而释放应力,减小了AlN生长过程中晶圆开裂的风险。
技术关键词
氮化物外延结构 GaN层 发光芯片 显示背板 衬底 显示设备 AlN薄膜 无裂纹 基础 电极 应力 元素 风险
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