基于FPGA的反激芯片监测评估方法、系统和设备

本发明提供了一种基于FPGA的反激芯片监测评估方法、系统、电子设备，方法包括采集开关损耗和导通损耗的实时数值，通过监测芯片上的Vds信号来判断输入高压或低压，以获取开关损耗信息，测量芯片内部的Rdson值以获得导通损耗信息，根据预先定义的电压范围或系统动态需求自适应调整高低压阈值，根据仿真芯片内部工作情况，评估不同VFB/VCS比值下的性能，在仿真中使用高低压阈值设定输入高压和低压的判断条件，触发相应操作和调整，模拟芯片内部电路结构和工作条件以获取参数，通过改变芯片内部反馈电压和比较电压的比例来调节VFB/VCS比值，调节VFB/VCS比值以影响芯片内部的峰值电流，降低开关频率和开关损耗。本发明可以提供一个高效、稳定且节能的电源管理解决方案。