包装盒表面平整度的检测方法、装置、存储介质及电子设备

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包装盒表面平整度的检测方法、装置、存储介质及电子设备
申请号:CN202410924539
申请日期:2024-07-10
公开号:CN118882548A
公开日期:2024-11-01
类型:发明专利
摘要
本公开涉及一种包装盒表面平整度的检测方法、装置、存储介质及电子设备,包括:向待检测包装盒的各个包装平面发射多次超声检测信号,对应的超声接收装置,根据表面回波信号中各空间点位对应的多个超声回波,确定待检测包装盒表面的最大空间幅值均值,确定表面回波信号中多个超声回波之间的离差率数据,表面回波信号对应多个超声回波之间的时空平均功率,对最大空间幅值均值、离差率数据和时空平均功率进行处理生成降维数据集,将降维数据集输入至非线性回归模型,生成非线性回归模型的主元回归模型系数矩阵,对表面回波信号进行检测,生成表面的粗糙度评价结果。从而通过机器识别的方式对包装盒的表面平整度进行检测,提高了平整度识别的准确性。
技术关键词
非线性回归模型 主元回归模型 包装盒 超声回波 协方差矩阵 幅值 特征值 信号 数据 粗糙度 模型预测值 子模块 电子设备 处理器 元素 超声波
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