可控硅芯片的制作方法及可控硅芯片

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正文
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可控硅芯片的制作方法及可控硅芯片
申请号:CN202410927912
申请日期:2024-07-11
公开号:CN118888442A
公开日期:2024-11-01
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种可控硅芯片的制作方法及可控硅芯片,涉及半导体技术领域。所述方法包括:提供一硅片,硅片包括第一表面及第二表面;在第一表面及第二表面分别形成第一氧化层及第二氧化层;对第一氧化层及第二氧化层进行光刻,在第一氧化层分别形成暴露出第一表面的第一窗口及第二窗口,在第二氧化层形成暴露出第二表面的第三窗口;使用磷源进行预扩散,分别形成第一磷层及第二磷层;在第一磷层远离第一表面的一侧形成屏蔽层;根据第一磷层及第二磷层对硅片进行二次预扩散及主扩散,形成正面发射区、门极及背面发射区,正面发射区及门极的掺杂浓度小于背面发射区的掺杂浓度,如此,可以实现各个象限的触发电流差值较小,同时保持dv/dt参数的稳定性。
技术关键词
可控硅芯片 氧化层 硅片 P型掺杂区 正面 光刻 屏蔽层 沟槽 引线 合金 真空 玻璃 电流 溶液 参数
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