晶上储能芯片的设计制造与集成方法

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晶上储能芯片的设计制造与集成方法
申请号:CN202410928297
申请日期:2024-07-11
公开号:CN118899509A
公开日期:2024-11-05
类型:发明专利
摘要
本发明公开了晶上储能芯片的设计制造与集成方法,属于先进微电子技术领域。根据储能电池的集流体、电极、隔膜、电解质等分层构型的特点,创新提出晶上储能芯片的多晶圆分层制备方法:利用半导体制造CMOS工艺在不同晶圆同一区域刻蚀腔室和模板,为储能芯片提供封装外壳;在上、下晶圆分别沉积制备集流体、正/负极并填充电解质,经对准标记低温键合形成晶上储能芯片;利用沉积剥离工艺形成RDL导电线路、采用DRIE与Bosch工艺制备TSV,实现晶上储能芯片与多层界面结构、芯片及器件的电学连接,提高智能系统集成度。本发明可获得高性能、轻量化、高集成、可定制化的储能芯片,作为集成能源芯片保证微小型化电子设备稳定的电能供应,为后摩尔时代智能微系统提供关键核心芯片。
技术关键词
集成方法 储能 芯片 多层界面结构 CMOS工艺 沉积导电金属 干法刻蚀工艺 集流体 正极浆料 对准标记 导电线路 凝胶电解质 负极 涂敷技术 小型化电子设备 电极 固态电解质 晶圆键合工艺
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