基于高压MCU的高压采样和AFE采样串联式连接系统

本发明公开了基于高压MCU的高压采样和AFE采样串联式连接系统，涉及高压采样技术领域，包括低压MCU模块、数字隔离模块、高压采样MCU模块、变压器隔离模块、AFE采样MCU模块，且所述低压MCU模块和所述数字隔离模块通过SPI通讯接口相连，所述数字隔离模块和所述高压采样MCU模块通过SPI通讯接口相连；本发明通过设置低压MCU模块、数字隔离模块、高压采样MCU模块、变压器隔离模块、AFE采样MCU模块，以及通过设计各个模块之间的电路连接方式、通讯方式和通讯逻辑，实现了系统安全、可靠、高效的高压信号和模拟信号采样功能，达到了简化高压采样和AFE采样与低压MCU之间的通讯方式。