芯片测试方法及芯片测试系统

本发明公开一种芯片测试方法及芯片测试系统，该芯片测试方法包括：响应于测试指令，向待测试的多个芯片发送测试行为指令，该多个芯片包括至少一个第一类型芯片和至少一个第二类型芯片，该第一类型芯片具有测试行为数据记录功能；在多个芯片中存在发生异常的异常芯片情况下，确定异常芯片对应异常测试行为数据，该异常测试行为数据存储于第一类型芯片的行为记录区域中；根据异常测试行为数据对异常芯片所发生的异常进行分析，以确定异常芯片出现的目标问题。因此，在批量测试时，准确定位出待检测的芯片中发生异常时的问题，从而能够精确地确定待检测的芯片中的目标问题并解决该目标问题，提升包括存储芯片的板卡出厂质量，提高板卡的出厂良率。