一种集成电路智能测试方法及系统

本发明公开了一种集成电路智能测试方法与系统，首先使用正预测器、负预测器同步对所有需要进行测试的集成电路进行预测，通过对比两个预测的预测结果，识别出具有大于可靠性阈值Tstab的预测结果并转为传统测试，有效提高了测试可靠性。与此同时，本发明对正负两个预测器的预测结果进行加权求和作为最终预测结果，使最终结果预测误差小于单模型预测误差的1/2，显著提高了预测精度，此外，最终预测误差的方差小于单模型预测误差方差的1/2，也有效提高了测试稳定性。