半导体装置

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推荐专利
半导体装置
申请号:CN202410934171
申请日期:2024-07-12
公开号:CN119542303A
公开日期:2025-02-28
类型:发明专利
摘要
本公开提供一种能检查接合线的半导体装置。半导体装置具备:基座(11);一个或多个芯片,包括设于所述基座上的半导体芯片(20);第一接合线(32),连接于所述一个或多个芯片中的至少一个芯片;第二接合线(41至44),在从所述基座的厚度方向观察时与所述第一接合线的延伸方向交叉的方向上延伸;以及树脂层,设于所述基座上,对所述一个或多个芯片、所述第一接合线以及所述第二接合线进行封固,所述第一接合线与所述第二接合线不接触,在所述第一接合线向所述第二接合线倾斜时,所述第一接合线能与所述第二接合线接触。
技术关键词
接合线 半导体装置 半导体芯片 基座 无源元件 传输高频 端子 信号
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