一种注视点的校验方法及电子设备

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正文
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一种注视点的校验方法及电子设备
申请号:CN202410937433
申请日期:2024-07-12
公开号:CN119576114A
公开日期:2025-03-07
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种注视点的校验方法及电子设备,用于提高校验结果的准确率和效率。包括:获取校准注视点数据和随机注视点数据,校准注视点数据包括各校准注视点和各校准注视点各自的校准图像,随机注视点数据包括各随机数据点和各随机注视点各自的随机图像;校准注视点为预设好显示位置的注视点,随机注视点为随机生成显示位置的注视点;利用RANSAC算法对各校准注视点校验,得到有效的校准注视点;根据有效的校准注视点和其对应的校准图像,得到半监督标注训练样本;基于各随机图像和各校准图像,得到无半监督标注训练样本;利用半监督标注训练样本和无半监督标注训练样本对VAE模型训练;利用训练好的VAE模型,得到各注视点的校验结果。
技术关键词
注视点 校准 透视变换矩阵 图像 RANSAC算法 编码器 电子设备 概率密度函数 成像 数据 校验方法 邻域 解码器 处理器 存储器 样本 参数
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