一种激光测厚方法及系统

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推荐专利
一种激光测厚方法及系统
申请号:CN202410942113
申请日期:2024-07-15
公开号:CN118470028B
公开日期:2024-10-25
类型:发明专利
摘要
本发明实施例提供了一种激光测厚方法及系统,涉及激光测厚技术的技术领域。其方法包括:获取在预设相机上形成的光斑信息;通过预设的第一算法和第二算法对光斑信息进行滤波质心计算,以确定光斑中心均值坐标;通过预设的第三算法对所述光斑中心均值坐标进行优化处理,以得到目标光斑中心坐标;基于所述目标光斑中心坐标进行厚度计算,以得到所述待检测件的厚度信息。通过本发明,解决了激光测厚精度低的问题,进而达到了提高激光测厚精度和效率的效果。
技术关键词
光斑中心坐标 图像灰度信息 激光测厚方法 激光发射器 像素点 三角形 概率密度函数 激光测厚系统 激光测厚技术 间距 光束 滤波算法 误差
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