热损伤玉米颗粒检测方法、装置、电子设备和介质

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正文
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热损伤玉米颗粒检测方法、装置、电子设备和介质
申请号:CN202410942654
申请日期:2024-07-15
公开号:CN118506008B
公开日期:2024-10-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了涉及图像目标检测技术领域的一种热损伤玉米颗粒检测方法、装置、电子设备和介质,所述方法包括:将热损伤玉米检测图片输入到预先训练的CycleGAN网络模型中进行处理,得到所述热损伤玉米检测图片对应的普通玉米检测图片;在所述热损伤玉米检测图片和所述普通玉米检测图片中确定输入数据,并将所述输入数据输入到预先训练的热损伤玉米语义分割模型中进行处理,得到热损伤玉米分割图;所述热损伤玉米语义分割模型是以普通玉米分割标签图作为标签数据进行训练的。采用该方法能够训练用于分割热损伤玉米颗粒的模型,提高对热损伤玉米颗粒的分割精度。
技术关键词
玉米 颗粒检测方法 语义分割模型 图片 网络 残差模块 样本 标签 颗粒检测装置 数据 电子设备 处理器 可读存储介质 存储器 通道 尺寸 计算机 图像
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