一种仿真验证方法、装置、计算机设备及存储介质

本发明涉及芯片验证技术领域，公开了一种仿真验证方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法包括：获取待验证模块的至少一个测试用例对应的第一仿真结果，第一仿真结果包括至少一个测试用例的第一覆盖率、待验证模块的多个未覆盖特性、每个未覆盖特性关联的多个第一测试用例以及输入激励参数；根据第一仿真结果，建立多个未覆盖特性、多个第一测试用例以及每个第一测试用例的输入激励参数之间的映射关系；根据目标未覆盖特性和映射关系，确定目标测试用例和目标测试用例的输入激励参数集合；基于输入激励参数集合和目标测试用例，进行仿真回归，直到目标未覆盖特性验证成功。本发明可以解决验证芯片的测试用例的覆盖率较低且提升缓慢的问题。