用于芯片组件缺陷检测的视觉检测设备

本发明属于芯片封装管壳缺陷检测领域，特别涉及一种用于芯片组件缺陷检测的视觉检测设备，它解决了检测准确率不高，效率不高的问题。本视觉检测设备，包括架体和储料机构，储料机构一侧设有环形转盘，在环形转盘上设有若干检测工装，储料机构一端与环形转盘之间设有上料机构，另一端与环形转盘之间设有下料机构，上料机构与环形转盘之间设有用于检测芯片组件底面和棱边的第一摄像单元，环形转盘与架体之间设有正面检测机构、用于同时检测芯片相邻两侧面的第一双侧面同检机构以及用于同时检测其余相邻两侧面的第二双侧面同检机构，下料机构与环形转盘之间设有底面检测机构。实现了对芯片底面、侧面、棱边和正面的多次检测，检测准确率高。