芯片业务性能的测试方法及装置

本申请实施例提供了一种芯片业务性能的测试方法，其中，该方法包括：在响应目标测试请求为目标测试用例筛选运行参数的过程中，根据目标芯片的参考运行信息以及参考运行参数为目标测试用例预测目标运行参数；控制服务器按照目标运行参数对目标芯片运行目标测试用例，得到目标芯片的目标运行信息；根据目标运行信息预测目标运行参数和目标测试请求之间的目标匹配信息；在目标匹配信息用于指示目标运行参数和目标测试请求之间满足目标匹配条件的情况下，控制服务器调用目标测试用例和目标运行参数测试目标芯片在目标业务模式下的目标业务性能。通过本申请，解决对芯片业务性能的测试效率较低问题，达到提高对芯片业务性能的测试效率的效果。