一种基于机器学习模型的显微镜系统及方法

AITNT
正文
推荐专利
一种基于机器学习模型的显微镜系统及方法
申请号:CN202410955021
申请日期:2024-07-17
公开号:CN118840748A
公开日期:2024-10-25
类型:发明专利
摘要
本发明涉及图像分析技术领域,具体为一种基于机器学习模型的显微镜系统及方法,系统包括光谱特征分析模块、自适应光源调整模块、实时对焦优化模块、样本定位调整模块、图像质量评估模块和图像增强处理模块。本发明中,通过采集图像的色谱数据,分析光谱反射率,对样本的光谱特征进行评估,根据样本的光谱特征,进行光源波长和强度的自动调节,提高了观察图像的对比度和清晰度,使得细节观察更为精准,通过实时对焦调整的引入,确保了图像的持续清晰,提高了操作的便捷性和观察效率,通过图像质量评估与增强处理,实现了图像质量优化,确保了图像中关键特征的高识别精度和优异的视觉效果,优化了用户体验。
技术关键词
机器学习模型 显微镜系统 样本 子模块 对比度 光源 波长 数据 图像增强 显微镜方法 色谱 图像分析技术 透光率 透光特征 反射率 误差识别 噪声模式
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号