一种电子元器件检测系统及方法

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推荐专利
一种电子元器件检测系统及方法
申请号:CN202410961220
申请日期:2024-07-18
公开号:CN118505691B
公开日期:2024-10-22
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种电子元器件检测系统及方法,该方法包括:基于图像采集模块采集电子元器件的图像,基于图像增强模块对已有的电子元器件的图像进行图像增强,基于已有的电子元器件的图像及增强后的图像生成数据集,图像检测模块构建图像检测模型,并基于数据集对图像检测模型进行训练,得到训练后的图像检测模型,将采集的电子元器件的图像输入训练后的图像检测模型中,得到检测结果。本发明提供的电子元器件检测系统及方法,通过采集电子元器件的图像即可实现电子元器件的检测,便于使用。
技术关键词
图像检测模型 电子元器件 图像增强模块 图像采集模块 图像增强模型 生成数据集 中央控制模块 滤波器 网络 分支 图像增强技术 输出特征 全局平均池化 随机梯度下降 人机交互模块 视觉
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