一种面板产线缺陷检测通用模型建模检测方法

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一种面板产线缺陷检测通用模型建模检测方法
申请号:CN202410964461
申请日期:2024-07-18
公开号:CN118505704B
公开日期:2024-10-22
类型:发明专利
摘要
本发明涉及智能制造技术领域,公开了一种面板产线缺陷检测通用模型建模检测方法、系统、设备及存储介质,其包括步骤:步骤1,收集面板产线样本数据并进行缺陷标注,得到样本数据集;步骤2,以所述数据集建模并训练得到定位模型;步骤3,以所述数据集为基础裁剪出包含缺陷的图像并分类,形成缺陷图数据集;步骤4,以所述缺陷图数据集建模并训练得到图像分类器,并与所述定位模型串联;步骤5,根据工厂属性和制程属性,通过所述图像分类器和定位模型将缺陷进行映射,映射到具体缺陷名;该方法可根据具体生产环境和需求,进行精准的缺陷名称映射,整体方案减少沟通核对时间,增加销量的同时也提升检测结果的适用性和准确性。
技术关键词
建模检测方法 图像分类器 产线 计算机视觉 制程 面板 数据 分类系统 图像增强 样本 算法 模型训练模块 可读存储介质 处理器 计算机设备 机台 图片 存储器
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