一种基于自适应空间特征融合和结构重参数化的瓦楞纸箱缺陷检测方法及系统

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一种基于自适应空间特征融合和结构重参数化的瓦楞纸箱缺陷检测方法及系统
申请号:CN202410965021
申请日期:2024-07-18
公开号:CN118918077A
公开日期:2024-11-08
类型:发明专利
摘要
本发明提出了一种基于自适应空间特征融合和结构重参数化的瓦楞纸箱缺陷检测方法及系统,包括:采集待检测的瓦楞纸箱图像数据;将待检测的所述瓦楞纸箱图像数据输入缺陷检测模型中,对被检瓦楞纸箱进行实时的缺陷检测;其中所述缺陷检测模型包括:backbone特征提取网络、neck特征提取网络和自适应空间特征融合检测网络,并基于数据集训练获得;所述数据集包括:含有缺陷的瓦楞纸箱图像数据和对应的缺陷种类。本发明系统结构简单,能实时获取被检测瓦楞纸箱图像,结合基于自适应空间特征融合和结构重参数化的缺陷检测算法,具有高的检测精度和速度,有望在瓦楞纸箱缺陷检测领域得到广泛应用。
技术关键词
瓦楞纸箱 缺陷检测方法 采样模块 特征提取网络 双分支结构 特征提取模块 成像单元 图像 分辨率 参数化方法 数据处理单元 缺陷检测算法 缺陷检测系统 输出特征 通道 照明装置 特征提取器
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