一种套刻标记评价指标的预测方法和装置

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一种套刻标记评价指标的预测方法和装置
申请号:CN202410968182
申请日期:2024-07-18
公开号:CN118940620A
公开日期:2024-11-12
类型:发明专利
摘要
本公开提供了一种套刻标记评价指标的预测方法和装置。本公开的预测方法包括:构建训练数据集,训练数据集中至少包括:套刻标记的参数信息以及套刻标记的评价指标;以训练数据集中的参数信息作为输入,以训练数据集中的评价指标作为输出,对评价指标预测模型进行训练,得到训练好的评价指标预测模型;以及,将待评价的套刻标记的参数信息输入至评价指标预测模型,得到待评价的套刻标记的评价指标。本公开采用机器学习的方式,通过训练套刻标记的评价指标预测模型来替代复杂的光学衍射模型,使训练的预测模型能够以高精度逼近套刻标记的实际物理模型,以输出精度更高的套刻标记评价指标。
技术关键词
套刻标记 指标 设备参数信息 支持向量回归模型 深度神经网络模型 卷积神经网络模型 残差神经网络 数据 叠层 随机森林模型 临近算法 决策树模型 多层感知器 预测装置 存储器 处理器 偏振态
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