半导体器件的封装结构、方法及计算设备

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推荐专利
半导体器件的封装结构、方法及计算设备
申请号:CN202410968730
申请日期:2024-07-18
公开号:CN118866835A
公开日期:2024-10-29
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供一种半导体器件的封装结构、方法及计算设备,其中,所述半导体器件的封装结构,包括:基板,包括位于基板上的至少一个芯片;封装加强件,位于基板上;封装加强件的顶面结构包括凸出部,凸出部的凸出方向朝向芯片的顶面方向,且凸出部的投影面积覆盖芯片的顶面面积;挡液罩,包括可延展的挡液臂结构;挡液臂结构的一端围绕芯片的外边缘固定,另一端固定在位于顶面结构的两端的连接部,连接部远离凸出部所在区域;挡液罩、封装加强件和芯片的顶面形成封闭空腔;液态热界面材料层,位于封闭空腔中。本申请实施例提供的技术方案,可以在保证半导体器件的正常工作的情况下,提高半导体器件的封装结构的散热效果。
技术关键词
半导体器件 封装结构 顶面结构 热界面材料层 芯片 挡液罩 折角凹槽 基板 封装方法 空腔 榫卯结构 焊接结构 电容 粘合剂
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