一种嵌入式设备的测试系统
申请号：CN202410973454
申请日期：2024-07-19
公开号：CN119024065A
公开日期：2024-11-26
类型：发明专利
摘要
本申请提供一种嵌入式设备的测试系统，系统包括中央处理器和与中央处理器连接的多个接口单元，其中，每个接口单元用于与嵌入式设备连接；中央处理器用于响应上位机发送的测试指令，根据测试指令所指示的测试模式，完成对所连接的嵌入式设备的测试，用以提高测试系统的稳定性和安全性。
技术关键词
嵌入式设备
中央处理器
接口单元
网卡
现场可编程逻辑门阵列
协议
算法模块
通讯
模式
指令
存储单元
测试模块
缆线
