工件缺陷检测方法、装置、计算机设备和可读存储介质

本申请涉及一种工件缺陷检测方法、装置、计算机设备和可读存储介质。该工件缺陷检测方法包括：获取待检测工件的工件图像中目标区域的像素位置信息，其中，所述目标区域是指符合缺陷检测需求的多个像素点构成的像素区域；根据所述像素位置信息，从所述目标区域定位至少一个缺陷检测点；根据各所述缺陷检测点，在所述工件图像中选取待检测区域图像；根据所述待检测区域图像，对所述待检测工件进行缺陷检测。采用本方法能够提升工件进行缺陷检测的检测准确性。