用于存储器自检及修复的方法及装置

本申请提供一种用于存储器自检及修复的方法及装置，所述方法包括：根据控制信号定义或测试模式配置，预定义存储器测试算法；根据测试算法启动存储器测试逻辑，以获取待测存储器的读数据，所述测试逻辑包括数据处理模块；如果所述读数据和比较数据不一致，记录错误地址和错误数据；根据所述错误地址和错误数据，计算故障率；如果故障率小于或等于故障率阈值，调用所述数据处理模块，所述数据处理模块用于生成修复信息；基于所述修复信息对所述待测存储器的错误地址和错误数据修复。所述方法通过一个测试逻辑，可完成对存储器的自检和修复，还可通过管脚或寄存器灵活选择存储器的数量以及检测方案，使方法更灵活，以解决资源浪费的问题。