用于光模块多径干扰测试的一体化测试系统及测试方法

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推荐专利
用于光模块多径干扰测试的一体化测试系统及测试方法
申请号:CN202410981036
申请日期:2024-07-22
公开号:CN118509052B
公开日期:2024-10-18
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种用于光模块多径干扰测试的一体化测试系统及测试方法,包括:光源模块;分光器OC1,用于将光信号分成主臂和MPI臂;分光器OC3,用于将主臂上的光信号分成两路;可调损耗链路;分光器OC4,用于将可调损耗链路上输出的光信号分成两路;分光器OC2,用于将光信号进行合并;衰减器,接收分光器OC2输出的光信号并进行调整;系统中所有光接口的光纤均进行熔接;优势在于:一套系统即可直接进行多径干扰的容忍度测试;将所有必要的光接口的光纤进行熔接,从根本上杜绝了光反射的产生,不会引入额外的多径干扰;设计采用可视化实时显示界面,直接获得等效反射系数值,避免频繁拆装光接口。
技术关键词
一体化测试系统 光模块 多径 光信号 半导体制冷器 光源模块 光功率 光纤 测试方法 界面 驱动芯片 接口 光衰减器 偏振器 损耗 激光器 链路 微处理器
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沪ICP备2023015588号