一种CC校验方法及相关装置
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一种CC校验方法及相关装置
申请号:
CN202410984663
申请日期:
2024-07-19
公开号:
CN118963650A
公开日期:
2024-11-15
类型:
发明专利
摘要
一种CC校验方法,包括:获取Raid卡上历史IO操作的时延变化信息;根据时延变化信息,确定至少一个低时延时间段;根据至少一个低时延时间段,确定CC校验的执行参数。其中,通过将CC设置于上层业务的IO时延较低的时间段,避免了CC工作“抢占”上层业务的逻辑资源,降低了CC工作对上层业务的不利影响,保证了上层业务的工作性能,从而可以在用户不感知的情况下进行CC工作,提升了用户使用体验。
技术关键词
时间段
低时延
周期
校验方法
Raid卡
速度
参数
存储器
磁盘
处理器
指令
逻辑
资源
沪ICP备2023015588号