测试数据生成方法、装置、电子设备及介质

本公开提供一种测试数据生成方法、装置、电子设备及介质，涉及计算机技术领域，该方法包括：获取目标数据库中的待处理结构体；对待处理结构体进行序列化处理，得到待处理结构体经过序列化处理后的测试数据，并将测试数据存储至目标数据库，实现通过自动化生成测试数据，并将该测试数据存储到数据库中，以为后续所有的单元测试使用，降低单元测试的工作量，从而提高单元测试的效率。