一种平面分子晶体层状堆积模式的识别方法

本发明涉及一种平面分子晶体层状堆积模式的识别方法。通过计算平面分子的环数、重原子个数、偶极矩和分子表面静电势的最小值和计算的π‑π2max来建立预测π‑π2max的理论模型，再通过预测的π‑π2max的值定量识别平面分子晶体的堆积模式。本发明建立从分子特征到晶体堆积模式的桥梁，开发了一种识别平面分子晶体层状堆积模式的理论方法。本发明提供的方法可实现快速区分平面分子的堆积模式是层状或非层状。该方法有助于加速新型层状含能材料的发现。