摘要
本发明涉及集成电路自动化测试设备领域,尤其涉及一种动态分配AFM地址空间的方法及测试方法,所述动态分配AFM地址空间的方法包括录入DUT的配置信息至处理器;所述处理器收到所述配置信息,根据所述配置信息判断是否启用动态分配模式;如果不启用动态分配模式,则所述处理器按照默认配置为每个DUT分配逻辑地址空间;如果启用动态分配模式,则所述处理器根据所述配置信息动态调整分配给每个DUT的逻辑地址空间。本发明通过动态调整AFM地址空间的分配,可优化内存资源的使用,从而提高测试设备的灵活性和效率,适用于多种DUT数量和测试场景。
技术关键词
处理器
测试方法
模式
自动化测试设备
逻辑
开关
测试场景
数据
动态
参数
集成电路
内存
芯片
资源
系统为您推荐了相关专利信息
嵌入特征
注意力模型
基因表达数据
融合特征
样本
测试方法
扬声器
谐振频率测试系统
频率测试仪
振动组件