一种动态分配AFM地址空间的方法及测试方法

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一种动态分配AFM地址空间的方法及测试方法
申请号:CN202410995339
申请日期:2024-07-24
公开号:CN118940684A
公开日期:2024-11-12
类型:发明专利
摘要
本发明涉及集成电路自动化测试设备领域,尤其涉及一种动态分配AFM地址空间的方法及测试方法,所述动态分配AFM地址空间的方法包括录入DUT的配置信息至处理器;所述处理器收到所述配置信息,根据所述配置信息判断是否启用动态分配模式;如果不启用动态分配模式,则所述处理器按照默认配置为每个DUT分配逻辑地址空间;如果启用动态分配模式,则所述处理器根据所述配置信息动态调整分配给每个DUT的逻辑地址空间。本发明通过动态调整AFM地址空间的分配,可优化内存资源的使用,从而提高测试设备的灵活性和效率,适用于多种DUT数量和测试场景。
技术关键词
处理器 测试方法 模式 自动化测试设备 逻辑 开关 测试场景 数据 动态 参数 集成电路 内存 芯片 资源
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