晶圆缺陷类别检测方法及装置

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晶圆缺陷类别检测方法及装置
申请号:CN202411000172
申请日期:2024-07-24
公开号:CN118967601A
公开日期:2024-11-15
类型:发明专利
摘要
本发明涉及晶圆缺陷类别检测方法及装置,方法包括:获取待检测的目标晶圆图;将所述目标晶圆图输入到晶圆重构模型中,得到重构晶圆图;其中,所述晶圆重构模型为自编码器,基于包含多个正常晶圆图的第一数据集预先训练得到;根据所述目标晶圆图和重构晶圆图之间的重构误差,确定所述目标晶圆图的目标类型,包括正常晶圆图和异常晶圆图;当所述目标类型为异常晶圆图时,基于第二数据集对所述目标晶圆图上的缺陷图案进行缺陷检测,得到目标晶圆图的目标缺陷类别;其中,所述第二数据集中包含多个异常晶圆图以及各自的缺陷类别。
技术关键词
缺陷类别 重构模型 重构误差 晶圆 数据 图案 编码器 重构单元 计算机 可读存储介质 存储器 处理器 坐标
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沪ICP备2023015588号