基于解卷积优化的欠采样非视域成像方法

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基于解卷积优化的欠采样非视域成像方法
申请号:CN202411000554
申请日期:2024-07-25
公开号:CN118518591B
公开日期:2024-11-29
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于解卷积优化的欠采样非视域成像方法,包括:脉冲激光器对中继墙进行扫描,单光子雪崩二极管SPAD对各点的信号进行采集,得到欠采样的光子直方图;基于瞬态图和目标的先验信息,构建瞬态图‑目标联合先验优化模型,该模型考虑泊松信号分布特征、瞬态图的平滑性、非视域目标的非负性及非视域目标的稀疏性先验约束;采用广义交替投影方法在傅里叶域进行解算,优化模型并求解,得到非视域目标的反射率体素表示的优化结果。本发明在解卷积过程中结合了瞬态图和目标的先验,有效地补偿了由于扫描不足造成的解卷积的不准确性,也便于在解卷积过程中使用正则化项,该方法可以实现欠采样条件下的高质量重建。
技术关键词
单光子雪崩二极管 欠采样条件 成像方法 泊松噪声 脉冲激光器 直方图 投影方法 变量 光学传递函数 分布特征 增广拉格朗日 数据立方体 代表 处理器 矩阵 卷积模型 元素 计算机程序产品
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