一种基于数据内部迁移的闪存可靠性优化方法及相关装置

本发明公开了一种基于数据内部迁移的闪存可靠性优化方法及相关装置，方法包括：监控闪存控制器能否记录块的P/E循环次数；若能，计算页面的第一分布误差；若不能，基于预设变化图确定第二分布误差并估计出页面的估计矩阵；通过估计回拷贝计数预测模型预测页面各页类型的剩余回拷贝操作次数。在本发明中，通过分布误差来描述初始状态分布和最终状态分布的差异，以代替RBER对闪存可靠性的衡量；对于磨损计数未知的闪存芯片，通过估计回拷贝计数预测模型预测闪存芯片的不同页类型的剩余回拷贝操作次数进而预测闪存的最大计数能力，进而启动相应的纠错机制，有效减少页面之间错误累积的不对称性，延长闪存芯片的使用寿命，提高闪存的可靠性。