一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法

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一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法
申请号:CN202411001411
申请日期:2024-07-24
公开号:CN118969146B
公开日期:2025-08-22
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种纳米材料密度分布状态的评估分析方法,涉及纳米材料的技术领域,通过对待检测纳米材料进行预处理和区域分割,确保样品的均匀性和代表性,减少样品不均匀性对评估结果的影响,通过选择n组簇中心并结合密度评估数据集合,确定每个簇中心内纳米颗粒的数量Nks,并根据各簇中心内纳米颗粒的相对丰度Xdfd构建颗粒分布系数Kfxs,有效评估纳米颗粒的分布状态;通过特征提取获取待检测样本的有效表面积及孔隙率,并结合这两个参数构建结构状态系数Jzxs,从多维度评价纳米材料的结构特性和分布状态。通过训练后的模型计算获取待检测样本的总体密度分布评估指数Zmzs,确保模型具有较高的预测准确性和泛化能力。
技术关键词
评估分析方法 纳米颗粒尺寸 密度 数据 样本 卷积神经网络技术 评价纳米材料 构建纳米颗粒 欧氏距离算法 指数 命令 操作规程 红色 小规模 干燥器 参数 报表
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