一种基于缺陷样本生成的智能系统推理演进失效机理分析方法

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推荐专利
一种基于缺陷样本生成的智能系统推理演进失效机理分析方法
申请号:CN202411001423
申请日期:2024-07-25
公开号:CN118965732A
公开日期:2024-11-15
类型:发明专利
摘要
本发明针对智能系统在推理演进阶段失效机理难表征的问题,提出了一种基于缺陷样本生成的智能系统推理演进失效机理分析方法。它包含四大步骤:(1)对智能系统进行推理演进过程建模,找出其关键影响因素,定义其失效判据;(2)结合得到的关键影响因素,生成缺陷数据样本;(3)基于Grad‑CAM的可视化失效机理分析(4)基于代理模型构建智能系统失效机理模型。
技术关键词
对抗性 失效判据 分析智能系统 度量 分析方法 指标 协方差矩阵 深度神经网络模型 样本生成方法 定义 优化网络参数 神经网络参数 原始图像数据 表达式 多项式
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