芯片检测方法、装置、设备及存储介质

本申请实施例提供了一种芯片检测方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：获取真实完整芯片图像和真实缺陷芯片图像；调用增强模型对真实完整芯片图像进行增强，生成重建缺陷芯片图像，基于重建缺陷芯片图像和真实缺陷芯片图像确定第一损失和第二损失；获取第一平衡权重，基于第一平衡权重对第一损失和第二损失进行加权，得到第三损失，基于第一损失、第二损失和第三损失对增强模型进行训练；调用增强模型生成扩充芯片图像，基于真实完整芯片图像、真实缺陷芯片图像和扩充芯片图像对芯片检测模型进行训练；获取待测芯片图像，调用芯片检测模型对待测芯片图像进行检测，得到检测结果。本申请实施例能够提升芯片检测模型的准确性和泛化性能。