一种基于多径分量重建残差的目标检测方法

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正文
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一种基于多径分量重建残差的目标检测方法
申请号:CN202411001617
申请日期:2024-07-25
公开号:CN118884387A
公开日期:2024-11-01
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于多径分量重建残差的目标检测方法,包括以下步骤;步骤1:基于环境杂波的双自编码器训练算法,学习多径通道内的杂波结构特征并对多径回波进行重建;步骤2:将步骤1得到的重建多径回波合成为重建图像,基于重建残差的目标预检测算法,对比原图像和重建图像的差异,用于分辨待检区域是否包含目标回波。本发明充分发掘杂波的多径特征,通过多径回波重建残差,在无目标样本情况下实现弱小目标检测。
技术关键词
编码器训练 解码器 信号特征 通道 编码器结构 图像残差 回波特征 杂波环境 分量特征 算法 多径效应 矩阵 参数 数据 控制权 重构
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沪ICP备2023015588号