摘要
本发明提供了一种熔覆层高测量方法、系统、设备及存储介质,熔覆层高测量方法包括:将CCD固定设置于熔覆头同一平面并采集熔池图像;对熔池图像进行预处理,获得完整的熔池图像;将完整的熔池图像输入到预先训练好的回归预测模型中,获得第k层的预测熔焦量;通过第k层的预测熔焦量计算第k+1层的熔焦量;通过第k+1层的熔焦量计算第k+1层的熔覆层高。本发明通过固定设置的CCD随熔覆头加工轨迹运动,采集清晰的熔池图像并对图像进行预处理获得完整的熔池清晰图像,同时通过回归预测模型对离焦量进行预测,从而推算层高,不需要对CCD进行标定,可以免受机械臂抖动等因素的干扰,提高了成品质量、生产效率以及减少成本。
技术关键词
回归预测模型
高测量方法
计算机可执行指令
图像
覆层
Otsu算法
处理器
可读存储介质
免受机械
椒盐噪声
电子设备
模块
亮度
存储器
偏差
模版
参数
滤波
轨迹