一种芯片测试用夹具

本申请涉及一种芯片测试用夹具，涉及夹具技术领域，其包括：上盖与下盖，所述下盖转动安装在所述上盖上；针模组件，所述针模组件安装在所述下盖上，所述针模组件包括测试针，所述测试针向靠近所述上盖的一侧延伸；按压组件，所述按压组件安装在所述上盖上，所述按压组件包括压块，所述压块将芯片抵紧在所述测试针上；固定组件，所述固定组件包括扣板，所述扣板转动安装在所述上盖上，另一端扣合在所述下盖上。本申请使得芯片能够稳定的与测试针接触，防止芯片上的导电片与测试针分离，进而提升芯片的测试效果，能够得到真实的芯片射频性能。