一种用于自动化测试以太网物理层芯片眼图的系统及方法

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一种用于自动化测试以太网物理层芯片眼图的系统及方法
申请号:CN202411015399
申请日期:2024-07-26
公开号:CN119064753A
公开日期:2024-12-03
类型:发明专利
摘要
本发明涉及芯片测试技术领域,具体涉及一种用于自动化测试以太网物理层芯片眼图的系统及方法。系统包括:测试装置,用于接收一控制指令并根据控制指令对芯片进行测试,输出测试数据;测试主机,连接测试装置,测试主机包括,控制模块,连接测试装置,用于配置眼图测试项目,并根据眼图测试项目配置测试装置的参数,产生用于控制测试装置执行眼图测试项目的控制指令;自动生成报告模块,接收测试数据,用于形成将测试数据与眼图结合的汇总报告。本发明通过测试主机配置眼图测试项目输出控制指令,通过控制测试装置自动完成眼图的测试,产生汇总报告,由此可完成芯片的小批量测试,极大的提高了测试效率。
技术关键词
测试主机 生成报告 示波器 控制测试装置 温度控制模块 测试板 测试接口 电源模块 芯片测试技术 参数 温控 电压 电流值 通道 格式
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