芯片验证方法、验证装置、电子设备及存储介质

本公开提供一种芯片验证方法、验证装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取第一待测对象模块，第一待测对象模块被配置为在第一模式下接收第一随机激励且在执行第一随机激励信号后得到第一响应信号，用以验证第一待测对象模块；获取参考监控信息，参考监控信息包括第一模式下的错误场景对应的第一响应信号中的至少一个信号特征；基于第一随机激励获取目标文件，基于目标文件获取用于在第二模式向第一待测对象模块进行发送的第二直接激励，以及基于第二直接激励获取第一待测对象模块在执行第二直接激励后得到的第二响应信号；基于第二响应信号获取目标监控信息，基于目标监控信息和参考监控信息，获取错误场景是否复现的监控结果，目标监控信息包括第二响应信号中的至少一个信号特征。本公开可以排除随机稳定性对错误场景复现的影响，实现了对错误场景的稳定复现。