一种基于ATE设备的测试指令处理方法及ATE设备

本发明揭示了一种基于ATE设备的测试指令处理方法及ATE设备，所述基于ATE设备的测试指令处理方法，具体包括如下：上位机接收并识别测试向量中的测试指令与相应的数据集合；上位机对测试指令进行压缩，获取对应的压缩数据；上位机将压缩数据和数据集合传输至下位机，并存储至存储介质；以及下位机根据压缩数据从存储介质中读取对应的数据集合，生成并发送测试信号至待测芯片。本发明能够降低整个测试向量所占的存储空间，能够提高测试效率和缩短测试周期，还能够处理更大规模和更复杂的测试任务。