芯片引脚检测装置及方法

本发明公开了芯片引脚检测装置及方法，该芯片引脚检测装置包括第一通讯模块，与待测芯片连接；控制模块，与第一通讯模块连接，控制模块用于下发第一指令至待测芯片，以使待测芯片的所有通用输入/输出引脚输出第一状态；引脚状态采集模块，与第一通讯模块以及待测芯片连接，引脚状态采集模块用于获取待测芯片的所有通用输入/输出引脚的输出状态，并传输至控制模块，控制模块还用于根据待测芯片的所有通用输入/输出引脚的输出状态确定待测芯片的所有通用输入/输出引脚的开路情况。本发明技术方案中，缩短了芯片引脚的检测时间，提高了检测效率，使得生产成本降低，且不存在漏检，可靠性高。