按键测试装置及按键测试方法

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按键测试装置及按键测试方法
申请号:CN202411024367
申请日期:2024-07-29
公开号:CN118962287A
公开日期:2024-11-15
类型:发明专利
摘要
本申请实施例公开了一种按键测试装置及按键测试方法,属于测试领域。其中,所述按键测试装置包括处理模块、动作模块和电信号检测模块;所述处理模块用于获取测试数据并基于所述测试数据控制所述动作模块动作;所述动作模块用于触动所述待测设备的所述按键,以使所述按键被按动;所述电信号检测模块用于检测所述按键被按动时所述待测设备的电信号;所述处理模块用于根据所述电信号生成第一测试结果。本申请实施例具有减少测试步骤,提高测试效率以及提高按键测试装置的通用性的技术效果。
技术关键词
按键测试装置 动作模块 按键测试方法 电信号 压力检测模块 模数转换模块 按键寿命 测试待测设备 按键信号 芯片 电路板 探针 独立动作 面板 应变片 检测点
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